1. Đặc điểm của Hệ thống đo khúc xạ kép PHOTRON PA, WPA
Hệ thống hồng ngoại gần (NIR) hoạt động ở bước sóng 850nm và 940nm, cung cấp các công cụ mạnh mẽ để sản xuất và kiểm soát chất lượng các mẫu không trong suốt với bước sóng ánh sáng nhìn thấy, chẳng hạn như nhựa đặc biệt và chacolgenide được sử dụng, chẳng hạn như trong LIDAR và hệ thống nhận dạng khuôn mặt.
Các vật thể bị mờ đối với ánh sáng sẽ có màu đen đối với máy ảnh quang phổ nhìn thấy ‘bình thường’, nhưng trong suốt ở các bước sóng ánh sáng khác và có thể tiết lộ rất nhiều thông tin về thành phần của chúng và ứng suất dư gây ra trong quá trình sản xuất chúng.
Các hệ thống mới này hoạt động trong phạm vi Hồng ngoại gần cho phép đo lường các đối tượng mà trước đây không thể đánh giá được.
Phần mềm chuyên dụng được cung cấp cung cấp các tùy chọn như thay đổi kích thước trường nhìn và tăng phạm vi đo cho các mẫu có độ trễ cao. Nhiều bộ lọc khác nhau, chẳng hạn như giảm nhiễu hoặc tăng cường biến đổi cục bộ, v.v., được cung cấp để giúp các tác vụ phân tích dữ liệu của bạn, đồng thời có thể áp dụng nhiều bộ lọc có thể định cấu hình và nhiều bộ lọc. Chức năng phân tích phần mềm cũng có sẵn để mở rộng chức năng hệ thống PA / WPA nhằm đáp ứng nhu cầu hình ảnh phân cực khắt khe nhất của bạn.
2. Ứng dụng của Hệ thống đo khúc xạ kép PHOTRON PA, WPA
Đo lường độ trể và định hướng của:
- Thủy tinh
- PC và PMMA
- PVA, CO, TAC và PET
- Cũng như các vật liệu trong suốt hoặc bán trong suốt khác
