NOISEKEN EPS-02EMFv2 / EPS-02Hv2 Hệ thống hiển thị từ trường không gian

NOISEKEN
Loại: Thiết bị đo phát thải
Hãng sản xuất: NOISEKEN

Liên hệ

  • EPS-02EMFv2 có thể lưu dữ liệu tần số của từ trường đo được, nhờ đó bạn có thể dễ dàng xác định các điểm có biện pháp đối phó.
  • EPS-02Hv2 có thể đọc và hiển thị trực tiếp dữ liệu từ bộ phận đo cảm biến từ trường. Nó rất nhỏ gọn và dễ mang theo, thuận tiện cho việc đo lường tại chỗ.
Liên hệ

1. Tính năng của hệ thống hiển thị từ trường không gian NOISEKEN EPS-02EMFv2/ EPS-02Hv2

  • Hướng của từ trường có thể được xác định bằng cách thu thập dữ liệu trên trục X, Y, Z và các giá trị hiệu dụng tổng hợp của ba trục.
  • Có thể thực hiện các phép đo theo yêu cầu của ICNIRP 2010, IEC 62233 và JIS TS C 0044.

2. Ứng dụng của hệ thống hiển thị từ trường không gian NOISEKEN EPS-02EMFv2/ EPS-02Hv2

  • Hiển thị trực quan: 
  • Hệ thống giúp trực quan hóa các trường điện từ 3 chiều (theo thời gian, tần số và biên độ) một cách đơn giản và dễ hiểu. 
  • Gỡ lỗi EMC/EMI: +EPS-02Ev3 là công cụ hiệu quả để xác định nguồn gây nhiễu điện từ (EMI) và nhiễu điện từ (EMC) trong các thiết bị điện tử. 
  • Phân tích cường độ trường: +Hệ thống tạo bản đồ phân bố cường độ trường điện từ, giúp người dùng đánh giá mức độ ảnh hưởng của trường điện từ. 
  • Hiệu chỉnh kết quả: +EPS-02Ev3 cho phép hiệu chỉnh kết quả đo bằng trình chỉnh sửa hệ số tích hợp, đảm bảo tính chính xác cao. 
  • Tính di động: + Hệ thống nhỏ gọn và nhẹ, thuận tiện cho việc đo lường tại hiện trường. Ứng dụng: 
  • Thiết kế PCB 
  • Kiểm tra EMC/EMI 
  • Khảo sát môi trường 
  • Nghiên cứu khoa học
ModelEPS-02EMFv2EPS-02Hv2
Dải tần số 10Hz400kHz10Hz400kHz、 10Hz2kHz、 2kHz400kHz
Lựa chọn tần số có sẵnkhông có sẵn
Chế độ đo từ trườngTừ trường (mật độ từ thông) / mức phơi sáng
Đơn vị đo dBμVdBmTGA/m、%
Trục đo XYZXYZgiá trị hiệu quả kết hợp
Phương pháp ghi dữ liệu ĐơnChạy tự doGiữ tối đaGiữ đỉnh※ Giữ đỉnh
Các chức năng phụ trợ Lưu/tải/xuất/nhập bình luận
Hệ điều hành tương thích Microsoft® Windows® 10 / 11(Phiên bản tiếng Anh hoặc tiếng Nhật)

*Dữ liệu đỉnh tối đa: Hiển thị dữ liệu vết có giá trị đỉnh lớn nhất từ dữ liệu vết được đo tại mỗi điểm đo.